平成24年5月18日(金)、理工学研究科電子情報工学専攻高橋寛教授が株式会社半導体理工学研究センターから感謝状を授与されました。
今回贈呈された感謝状は、2009年度から2011年度にかけて、株式会社半導体理工学研究センター(STARC)と推進していた「超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法」に関する共同研究成果に対して、高橋 寛(大学院理工学研究科?教授)とその研究グループ(樋上喜信(大学院理工学研究科?准教授)ら)に贈られたものです。安心?安全な社会システムの構築のために必要不可欠な「システムLSIの高信頼化技術」における産業界のニーズの把握と先端的研究を推進し、更に若手研究者の育成に貢献したことが高く評価されました。株式会社半導体理工学研究センター(STARC)は、日本の大手の半導体会社(富士通セミコンダクター株式会社、パナソニック株式会社、ルネサス エレクトロニクス株式会社、ローム株式会社。ソニー株式会社、株式会社東芝)が出資し、半導体産業基盤の強化のために大学との共同研究、教育、試作支援を目的としています。
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