平成26年7月9日（水）?11日（金）、アメリカフロリダ州タンパで開催されたIEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI（米国電気電子学会コンピュータソサイエティVLSIに関する年次シンポジウム）で、理工学研究科電子情報工学専攻の樋上喜信准教授、高橋寛教授、小林真也教授が、Best Paper Awardを受賞しました。
本シンポジウムは、コンピュータシステムの設計、電子回路の設計、コンピュータ援用設計、コンピュータシステムの高信頼化などをテーマにした国際シンポジウムで、2014年は、164件の投稿に対して厳正な審査の結果、83件の口頭発表論文と25件のポスター発表論文が採択されました。さらに、発表論文の中から4件の論文がBest Paper Awardとして選ばれました。
今回受賞したのは、「Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults（クロック遅延故障存在時のゲート遅延故障の診断）」（樋上喜信、高橋寛、小林真也、Kewal K. Saluja（米国ウィスコンシン大学）共著）の論文です。本論文では、半導体大規模集積回路（VLSI）において、信号伝搬が遅延するような故障が起こった場合に、回路内のどの箇所で故障が起こったかを特定する手法を提案しています。
＜工学部＞